Elektromanyetik Uyumluluk Testlerinden İletimle Bağışıklık (Conducted Immunity) Deneyi, bir cihazın çalışması sırasında cihaz kablolarına elektromanyetik enerji kuplajlanması durumunda cihazda meydana ortaya çıkabilecek performans bozulmalarını tespit etmek amacıyla yapılmaktadır.
Cihazın elektrik şebekesindeki arızalar veya anahtarlamalar sebebiyle oluşan kısa süre içerisinde tekrarlanan değişimlere maruz kalması durumunda cihazda oluşabilecek performans bozulmalarını tespit etmek için ise Elektriksel Hızlı Geçişler ve Patlama (Electrical Fast Transients and Burst) Deneyi uygulanmaktadır.
Gerilim Çukuru ve Kısa Kesintiler (Voltage Dips, Short Interruptions and Voltage Variations) Deneyi ise, cihazın çalışması sırasında şebeke gerilimindeki değerlerin düşmesi, kısa süreli kesilmesi veya dalgalanması durumunda cihazda meydana gelebilecek performans bozulmalarını belirlemek amacıyla uygulanmaktadır.
Elektromanyetik uyumluluk testleri (EMC Testleri) yönünden bu kapsamda bulunan elektrikli ve elektronik ürünler için “Işımayla Yayınım (Emisyon), İletkenlikle Yayınım (Emisyon), Işımayla Bağışıklık (Alınganlık), İletkenlikle Bağışıklık (Alınganlık)” gibi EMC Test işlemleri için profesyonel hizmetler sunmaktadır.